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5050RGBW:淺談國(guó)際LED相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)

發(fā)布日期:2018-05-17 作者:普朗克光電 點(diǎn)擊:

目前,隨著5050RGBW半導(dǎo)體照明產(chǎn)業(yè)的快速發(fā)展,國(guó)際間相當(dāng)重視LED測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)的制訂。如美國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)檢測(cè)研究所(NIST)正在開(kāi)展LED燈珠測(cè)試方法的研究,準(zhǔn)備建立整套的LED測(cè)試方法和標(biāo)準(zhǔn)。日本也成立了「白光LED測(cè)試研究委員會(huì)」,專(zhuān)門(mén)研究照明用白光LED的測(cè)試方法和技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)。

世界發(fā)達(dá)國(guó)家為了搶佔(zhàn)LED先機(jī),在LED標(biāo)準(zhǔn)和測(cè)試方面都投入了大量的人力物力,在標(biāo)準(zhǔn)方面注重選擇LED特性參數(shù)及測(cè)試方法研究。同時(shí),許多國(guó)外大公司的研究和開(kāi)發(fā)人員正在積極參與國(guó)家和國(guó)際專(zhuān)業(yè)化組織,制訂半導(dǎo)體照明測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)。比方說(shuō)過(guò)去美國(guó)Lumileds與日本Nichia就宣佈過(guò)雙方進(jìn)行各自LED技術(shù)的交叉授權(quán),并準(zhǔn)備聯(lián)合制訂功率型LED標(biāo)準(zhǔn),以推動(dòng)市場(chǎng)應(yīng)用。

照明LED標(biāo)準(zhǔn)及檢測(cè)技術(shù)的現(xiàn)狀 國(guó)際照明委員會(huì)(CIE)和國(guó)際電工委員會(huì)(IEC)都沒(méi)有關(guān)于LED照明的標(biāo)準(zhǔn)。嚴(yán)格地說(shuō),國(guó)外目前沒(méi)有專(zhuān)門(mén)命名為半導(dǎo)體照明的標(biāo)準(zhǔn),只有有關(guān)普通LED的測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)和與普通光源有關(guān)的照明方面的標(biāo)準(zhǔn)。普通LED的測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)有: 
1.IEC60747-5 Semiconductor devices Discrete devices and integrated circuits(1992) 
IEC60747-5半導(dǎo)體分立器件及積體電路 
2.IEC60747-5-2 Discrete semiconductor devices and integrated circuits-Part 5-2:Optoelectronic devices-Essential ratings and characteristics (1997-09) 
IEC60747-5-2分立半導(dǎo)體器件及積體電路零部件5-2:光電子器件—分類(lèi)特徵及要素(1997-09) 
3.IEC60747-5-3 Discrete semiconductor devices and integrated circuits-Part 5-3 :Optoelectronic devices-Measuring methods(1997-08) 
IEC60747-5-3分立半導(dǎo)體器件及積體電路 
零部件 5-3:光電子器件—測(cè)試方法(1997-08) 
4.IEC60747-12-3 Semiconductor devices-part12-3: optoelectronic devices –Blank detail specification for light-emitting diodes –Display application(1998-02) 
IEC60747-12-3半導(dǎo)體分立器件12-3:光電子器件—顯示用發(fā)光二極體空白詳細(xì)標(biāo)準(zhǔn)(1998-02) 
5.CIE127-1997 Measurement of LEDs(1997) 
CIE127-1997 LED測(cè)試方法(1997) 
6.CIE/ISO standards on LED intensity measurements 
CIE/ISO LED強(qiáng)度測(cè)試標(biāo)準(zhǔn) 

國(guó)際照明委員會(huì)( CIE)1997年發(fā)表 CIE127-1997 LED測(cè)試方法 , 把 LED 強(qiáng)度測(cè)試確定為平均強(qiáng)度的概念,并且規(guī)定了統(tǒng)一的測(cè)試結(jié)構(gòu)和探測(cè)器大小,這樣就為 LED 準(zhǔn)確測(cè)試比對(duì)奠定了基礎(chǔ)。雖然CIE 127-1997 測(cè)試方法 并非國(guó)際標(biāo)準(zhǔn),但它容易實(shí)施準(zhǔn)確測(cè)試比對(duì),目前世界上主要企業(yè)都已采用。 但是隨著技術(shù)的快速發(fā)展,許多新的 LED技術(shù)特性 CIE127-1997 LED測(cè)試方法沒(méi)有涉及。

現(xiàn)在市場(chǎng)上有新的發(fā)展,日本更是努力要打造出完整的LED標(biāo)準(zhǔn)來(lái),隨著相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)越來(lái)越明確,LED產(chǎn)業(yè)的發(fā)展將更為穩(wěn)定。

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